半導體/FPD檢測顯微鏡

產(chǎn)品簡介
半導體/FPD檢測顯微鏡采用易用設(shè)計，能夠提供 300mm 晶圓、平板顯示器、印刷電路板、以及其他大型樣本的高品質(zhì)觀察。該產(chǎn)品采用靈活的模塊設(shè)計，能夠提供適用于多種檢查用途的觀察系統(tǒng)。通過與 Stream 圖像分析軟件結(jié)合，從觀察到報告生成在內(nèi)的整體檢查過程都變得簡單而流暢。

產(chǎn)品型號：MX63/MX63L

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

實驗檢測儀器

表面3D輪廓儀三維光學形貌儀材料試驗機光學軸類測量儀超景深三維顯微鏡粗糙度測量儀共面性測試儀接觸角測定儀一鍵式快速測量儀精密測量投影儀 CNC全自動影像儀 3D三坐標測量機快速尺寸測量儀測量金相顯微鏡刀具投影測量儀金相光學顯微鏡磨刀機顯微鏡測量分析顯微鏡視頻測量顯微鏡金屬材料顯微鏡高倍金相顯微鏡光學輪廓顯微鏡水滴角界面測量儀界面張力測量儀超低界面張力儀平面度測試儀臥式影像測量儀精密影像測量儀

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半導體/FPD檢測顯微鏡包括半導體、平板顯示（FPD）、印制電路板（PCB）等整個電子制造業(yè)的發(fā)展。奧林巴斯新推出的MX63和MX63L工業(yè)檢測顯微鏡光學性能、適合大樣品的檢測、人體工學設(shè)計等諸多優(yōu)點將會有助電子制造行業(yè)的發(fā)展更上一層樓。

半導體/FPD檢測顯微鏡

新MX63/MX63L顯微鏡支持奧林巴斯MIX照明功能的產(chǎn)品，由此進一步提升了該顯微鏡的觀察能力。MIX可將暗場與明場、熒光或偏振等其他觀察方法結(jié)合使用。在很多應用中，MIX能夠幫助用戶觀察到使用傳統(tǒng)顯微鏡難以看到的缺陷。